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技術(shù)文章

2023
7-12

走進(jìn)光學(xué)干涉儀：探索精密測(cè)量的奇妙世界
1.光學(xué)干涉儀是什么？光學(xué)干涉儀是利用光束之間的相互干涉現(xiàn)象進(jìn)行測(cè)量和分析的裝置。它基于波動(dòng)性理論，通過將兩個(gè)或多個(gè)光路上反射或傳播過程中產(chǎn)生的光束疊加在一起，并根據(jù)相位差來獲得被測(cè)物體表面形貌、薄膜厚度、折射率等信息。2.工作原理與分類常見的幾種典型光學(xué)干涉儀包括馬赫-曾德爾（Michelson）、白居易（Fizeau）、擴(kuò)展大比例（ESPI）以及激光自由空間雨滴法等。其中，馬赫-曾德爾干涉儀是最常見和基礎(chǔ)的類型，利用分束器將光源分成兩個(gè)相干光路，在反射或傳播過程中與被測(cè)物...
2023
6-29

一起來了解光學(xué)干涉儀的原理
光學(xué)干涉儀是一種利用光的干涉現(xiàn)象來測(cè)量長(zhǎng)度、厚度、折射率等物理量的儀器，測(cè)量原理是利用光的波動(dòng)性和干涉現(xiàn)象，通過測(cè)量光程差的變化來測(cè)量物體的形狀和表面特征。光程差是指兩束光在傳播過程中所經(jīng)過的光程差異，它是由物體表面形狀和折射率的變化所引起的。當(dāng)兩束光相遇時(shí)，它們會(huì)產(chǎn)生干涉現(xiàn)象，干涉圖樣的形狀和大小與光程差有關(guān)，通過測(cè)量干涉圖樣的變化，可以得到物體表面的形狀和特征。光學(xué)干涉儀的基本組成部分包括光源、分束器、反射鏡、光程差調(diào)節(jié)器和檢測(cè)器。在工作時(shí)，光源發(fā)出的光線經(jīng)過分束器分成兩...
2023
6-14

彈簧探針爆速測(cè)量?jī)x：快速高效的表面檢測(cè)利器
隨著制造業(yè)的不斷發(fā)展和進(jìn)步，表面檢測(cè)技術(shù)也在不斷地提高和創(chuàng)新。其中一種被廣泛使用的技術(shù)就是彈簧探針爆速測(cè)量?jī)x。該設(shè)備具有快速、高效、準(zhǔn)確等多種優(yōu)點(diǎn)，成為現(xiàn)代制造業(yè)中*工具。彈簧探針爆速測(cè)量?jī)x是一種利用機(jī)械原理進(jìn)行表面檢測(cè)的設(shè)備。其結(jié)構(gòu)由一個(gè)彈簧探頭和一個(gè)顯示屏組成。在使用過程中，將彈簧探頭壓在被測(cè)物體的表面上，然后松開彈簧探頭，此時(shí)彈簧會(huì)突然彈起，從而產(chǎn)生一個(gè)沖擊波。該沖擊波通過傳感器轉(zhuǎn)換成電信號(hào)并經(jīng)過處理后顯示在屏幕上，由此得出被測(cè)物體表面的相關(guān)參數(shù)。彈簧探針爆速測(cè)量?jī)x具有...
2023
6-9

數(shù)字粒子圖像測(cè)速儀——精確測(cè)量流體運(yùn)動(dòng)的利器
數(shù)字粒子圖像測(cè)速儀（DigitalParticleImageVelocimetry，DPIV）是一種現(xiàn)代化的流場(chǎng)測(cè)量技術(shù)，它可以準(zhǔn)確地測(cè)量高速流體在空間和時(shí)間上的速度變化。它使用激光束對(duì)流體中的微小顆粒進(jìn)行照射，并通過高速攝像機(jī)記錄其軌跡，以提取流場(chǎng)信息。數(shù)字粒子圖像測(cè)速儀的基本原理是通過兩張連續(xù)拍攝的圖像來比較流體中小顆粒的位置變化，從而計(jì)算出液體或氣體在兩個(gè)時(shí)間點(diǎn)之間的平均速度。為了達(dá)到更高的精度和分辨率，數(shù)字粒子圖像測(cè)速儀通常要求小顆粒直徑在數(shù)十微米以下，并且需要使用高...
2023
5-29

光子多普勒測(cè)速儀PDV的技術(shù)參數(shù)
光子多普勒測(cè)速儀PDV是成熟的超高速多普勒測(cè)速儀和光學(xué)多普勒測(cè)速儀,PDV測(cè)速儀,可測(cè)量高達(dá)20km/s的速度,非常適合爆破等瞬態(tài)高速測(cè)量,提供理想的高速時(shí)間解析結(jié)果和速度場(chǎng)可視化結(jié)果。光子多普勒速度測(cè)量?jī)x可以非接觸地連續(xù)測(cè)量運(yùn)動(dòng)物體表面的速度、位移和加速度的變化歷程，相比傳統(tǒng)的測(cè)速手段，其具有調(diào)試簡(jiǎn)單、結(jié)構(gòu)緊湊、測(cè)速能力強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn)。此測(cè)量?jī)x可以實(shí)現(xiàn)10m/s~8000m/s速度范圍內(nèi)物體表面4處質(zhì)點(diǎn)速度的同時(shí)測(cè)量，主要用于獲取材料沖擊實(shí)驗(yàn)中試樣的后自由面速度歷程曲線，以研究沖...
2023
5-25

瞬態(tài)多光譜輻射高溫計(jì)：可靠的高溫測(cè)量工具
隨著現(xiàn)代工業(yè)技術(shù)的發(fā)展，對(duì)于高溫環(huán)境下物體的熱特性進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量變得愈發(fā)重要。在高溫下，傳統(tǒng)的溫度計(jì)無法滿足需求，這時(shí)候就需要使用更為先進(jìn)的高溫測(cè)量工具，其中一種被廣泛應(yīng)用的工具就是瞬態(tài)多光譜輻射高溫計(jì)。瞬態(tài)多光譜輻射高溫計(jì)是通過測(cè)量物體表面的輻射能量來間接計(jì)算物體表面溫度的一種高精度、高可靠性的測(cè)量工具。它利用了不同波長(zhǎng)的輻射，在物體表面產(chǎn)生的反射和吸收不同，從而達(dá)到測(cè)量物體表面溫度的目的。在工作原理上，瞬態(tài)多光譜輻射高溫計(jì)使用的是基于輻射定律的數(shù)學(xué)模型，將不同波長(zhǎng)的輻射能量...
2023
5-15

時(shí)間間隔測(cè)量?jī)x的優(yōu)勢(shì)有哪些
時(shí)間間隔測(cè)量?jī)x是一種高科技儀器，可以精準(zhǔn)地測(cè)量時(shí)間之間的差異。它是根據(jù)《時(shí)間間隔測(cè)量?jī)x》檢定規(guī)程及《透射式煙度計(jì)檢定規(guī)程》的要求制作的一款多功能、高可靠性、專用的精密時(shí)差測(cè)量?jī)x器。時(shí)間間隔測(cè)量?jī)x采用高穩(wěn)定度恒溫晶振作為時(shí)間基準(zhǔn)，使用7寸大液晶觸摸屏，采用大規(guī)模集成電路FPGA技術(shù)，全數(shù)字控制，實(shí)現(xiàn)高速、高精度的時(shí)間間隔測(cè)量。該儀器被廣泛應(yīng)用于工業(yè)、電力、通信、航天等領(lǐng)域，如測(cè)量電源開關(guān)的響應(yīng)時(shí)間、計(jì)算機(jī)指令執(zhí)行時(shí)間、雷達(dá)信號(hào)回波時(shí)間等。時(shí)間間隔測(cè)量?jī)x主要由數(shù)字信號(hào)發(fā)生器、計(jì)時(shí)...
2023
4-27

粒子圖像測(cè)速技術(shù)按其成像介質(zhì)的兩大分類
粒子圖像測(cè)速技術(shù)(PIV)作為一種全新的無擾、瞬態(tài)、全場(chǎng)速度測(cè)量方法，在流體力學(xué)及空氣動(dòng)力學(xué)研究領(lǐng)域具有非常高的學(xué)術(shù)意義和實(shí)用價(jià)值。它是在傳統(tǒng)流動(dòng)顯示技術(shù)基礎(chǔ)上,利用圖形圖像處理技術(shù)發(fā)展起來的一種新的流動(dòng)測(cè)量技術(shù)。綜合了單點(diǎn)測(cè)量技術(shù)和顯示測(cè)量技術(shù)的優(yōu)點(diǎn),克服了兩種測(cè)量技術(shù)的弱點(diǎn)而成的,既具備了單點(diǎn)測(cè)量技術(shù)的精度和分辨率,又能獲得平面流場(chǎng)顯示的整體結(jié)構(gòu)和瞬態(tài)圖像。按其成像介質(zhì)分類介紹：PIV可分為基于模擬介質(zhì)的GPIV(graphicparticleimagevelocimet...
2023
4-13

關(guān)于全光纖激光干涉測(cè)速儀的知識(shí)你了解多少
近年來，全光纖激光干涉測(cè)速儀成為了物理實(shí)驗(yàn)與工業(yè)制造中*精密測(cè)量設(shè)備之一。該設(shè)備采用先進(jìn)的光纖技術(shù)和激光干涉原理進(jìn)行精確測(cè)速，具有高精度、高穩(wěn)定性和高靈敏度等特點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于航空航天、環(huán)保、制造和醫(yī)療等領(lǐng)域。全光纖激光干涉測(cè)速儀是一種非接觸式的測(cè)量技術(shù)，可以通過激光干涉的原理精確地測(cè)量物體的振動(dòng)、位移和應(yīng)變等。該設(shè)備的核心特點(diǎn)在于其采用光纖傳輸信號(hào)，因而具有的精度和靈敏度。相較傳統(tǒng)的機(jī)械式傳感器，全光纖激光干涉測(cè)速儀具有更加可靠和穩(wěn)定的性能，能夠長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行，且無需頻繁校準(zhǔn)。該...
2023
4-4

截面紋影成像的原理及選擇標(biāo)準(zhǔn)
截面紋影成像是一種非破壞性材料檢測(cè)技術(shù)，主要用于檢測(cè)材料內(nèi)部缺陷、異物、裂紋等情況，以保障材料的安全使用和延長(zhǎng)其使用壽命。本文將從作用、原理和選型標(biāo)準(zhǔn)三個(gè)方面介紹截面紋影成像技術(shù)。一、作用利用截面紋影成像技術(shù)，可以獲取材料內(nèi)部信息，分析其缺陷狀況，判斷材料的質(zhì)量狀況。具體而言，截面紋影成像技術(shù)可以用于以下方面：1.檢測(cè)材料內(nèi)部缺陷：利用截面紋影成像技術(shù)，可以對(duì)材料進(jìn)行非破壞性檢測(cè)，確認(rèn)材料中的缺陷情況，如金屬中的氣孔、夾雜物等。2.檢測(cè)材料內(nèi)部裂紋：截面紋影成像可以檢測(cè)出各種...

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